操作手册提供 SPA-400 原子力显微镜的工作原理、样品准备、探针安装、激光与探测器调节以及测量数据保存步骤。
本手册详细说明了 SPA-400 原子力显微镜的基本工作原理，包括接触模式和非接触模式的成像方式，并列出适用于该仪器的样品载体与尺寸限制。\n\n手册进一步指导用户完成系统启动、探针与样品的安装、激光与光电探测器的调节、Q 曲线测定、扫描参数设置以及测量数据的保存与程序退出流程，帮助实验人员安全、准确地进行原子尺度表面分析。 This manual is written in Chinese.
| Maximum sample thickness | 10 mm |
|---|---|
| Maximum sample diameter | 20 mm (standard), up to 40 mm possible |
| I gain range (approach) | 0.1–0.3 |
| Q curve normal voltage (SI‑DF 20) | 0.1–1 V |
| Q curve normal voltage (SI‑DF 40) | 0.05–0.5 V |
Common carriers include freshly cleaved mica, glass slides, graphite, polished silicon wafers, silica, and certain biological membranes.